二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #293604670 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X是一種利用原子力顯微鏡（AFM）提供納米級精度測量電氣和物理參數的儀器。EG 2001 X prober將高精度掃描顯微鏡技術與先進的集成控制電子技術相結合，提供了一個高精度、高效的測試解決方案。ELECTROGLAS EG2001X PROBER提供高達200 mm的大掃描區域,實現從簡單的接觸檢查到全自動系統的各種電氣、物理和材料參數測量。它可以表征200 mm2大小的設備,其較大的掃描區域可容納各種探針,從而能夠精確測量各種不同材料的陣列。ELECTROGLAS 2001X PROBER的集成電動控制系統為用戶提供了從0.1 nm到10 um的一系列掃描速度和分辨率,以確保各種電氣測量的數據高度準確。憑借其高分辨率的攝像頭系統，用戶可以以納米精度精確定位自己的測量。Prober容納了多種探針，包括導電AFM探針、靜電力顯微鏡（EFM）探針、開爾文探針、光學探針以及機械探針。ELECTROGLAS 2001 X prober還具有高級軟件程序,可實現自動化測試和數據分析。自動設備設置和對齊工具使用戶能夠快速、準確地設置Prober,而實時電源監控和數據記錄則可以方便地並行監控多個設備的性能。此外,prober的軟件程序與Windows兼容,允許用戶從幾乎任何位置監視、分析和控制EG 2001X系統。2001 X prober是一個精密的測試解決方案，結合了尖端的硬件和軟件技術，為用戶提供快速、準確、可靠的測試結果。ELECTROGLAS/EG EG2001X prober具有高精度的測量、廣泛的兼容探針以及一系列的自動化測試和分析軟件工具,是一種非常有價值的電氣和物理參數測量工具。