二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #293604674 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
ELECTROGLAS/EG 2001X prober是一種自動化晶片prober,設計用於半導體晶片測試。Prober有一個大型的自動化XYZ級,用於MEMS和光子學等高大設備,最高可達400 mm的Z-Travel。它的大工作區域覆蓋了300毫米晶圓,整個工作表面的運動精度沒有下降。Prober還具有獨特的柔性銷設計,提供了一個高度可靠和可重復的電氣路徑。這種靈活的連接使Prober能夠使用BGA、QFP、Flip Chip和Leaded設備等多種封裝類型進行操作。Prober還采用了彈性體技術,可實現安全、無振動的表面,從而降低噪音並提高測試產量。EG 2001 X prober上的AUTOMATED DRIVING ASSISTANT功能提供了一種智能視覺設備,可自動引導測試探測器到達目標引腳。視覺系統使用向導圖形用戶界面繪制測試程序,幫助操作員快速準確地設置探針。該prober還能夠執行恒定的時間延遲測量,這對於測試無線收發器設備(如Wi-Fi和Bluetooth)非常重要。此外,ELECTROGLAS EG2001X prober具有集中式GUI,允許用戶輕松創建和管理多個測試程序,以及監視和控制單個單元中的所有探針。該Prober由四核英特爾至強處理器和高達128 GB的RAM提供支持,可提供可靠、快速的晶圓測試平臺。EG2001X prober還提供了高度的機器靈活性,以確保滿足測試工程和操作不斷變化的需求。該工具具有多個可擴展連接節點(ECN),提供模塊化和可升級的體系結構,使用戶能夠快速擴展功能以滿足特定需求。企業更改通告提供了一系列其他軟件和硬件選項,包括用於自動設備表征的數據記錄器和視覺系統、用於晶圓級測試的高精度計量,以及用於測試具有不同軟件包且需要不同類型探測器的設備的多個測試頭接口。Prober的Windows環境允許輕松集成到標準實驗室網絡中,其硬件和軟件的既定可靠性為用戶提供了安全可靠的環境保證。所有這些功能結合在一起創建了一個自動化的prober,它可以處理各種測試應用程序。2001 X是一個功能強大且功能強大的自動化晶圓測試平臺。
還沒有評論