二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #293606275 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
2001X
ID: 293606275
晶圓大小: 6"-8"
Prober. 6"-8" Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 2001X prober是一種設計用於測試半導體器件的高性能、全自動探測設備。該系統可與各種接口硬件和軟件集成,以實現對接觸位置、壓力和阻抗測量的精確控制。Prober能夠執行手動和自動接觸測試。該探頭采用無損、專利、低電流穿透探頭,便於精確定位接觸金字塔。預應器的熱卡盤確保探針與基板之間的可靠接觸,並具有較快的溫度上升時間,以確保最小的熱波動。高性能、高分辨率的Corescanner光學器件利用數字邊緣識別技術,實現準確、可重復的觸點放置。Prober利用多軸運動單元,結合6軸機器人手臂和高分辨率、高速垂直軸。機器人手臂能夠精確精確地定位探針,而高速、高分辨率的垂直軸則可以將觸點放置在高密度的封裝和高度非平面的拓撲上。Prober可以與多種外部硬件集成,如光學檢查系統、自動測試設備(ATE)系統和自動塔式處理程序,從而允許更大的控制和靈活性。此外,prober的數字掃描控制模塊允許自動放置觸點和優化觸點參數。Prober由一臺強健的基於Linux的操作機器提供支持,包括了許多高級工具,如直觀的圖形用戶界面、腳本工具、數字接觸優化例程和其他用於自動測試的工具。此外,專用軟件工具允許集成和控制外部硬件,以及外部設備的數字連接。EG 2001 X prober是一種高度通用的測試工具,為半導體器件的接觸測試提供了可靠可靠的解決方案。Prober的高級功能、集成功能和直觀的用戶界面使用戶能夠輕松優化聯系人參數,並根據其特定需求準確放置聯系人。
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