二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9088269 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X是一種用於半導體晶圓測試和制造的強大載體。它是一個高性能的晶圓測試和探測解決方案，利用先進的技術最大限度地提高成本效益，並以最高的精度和速度產生結果。EG 2001 X是一個全自動探測站，最大探測面積為11 x 11英寸。它具有75毫米Z軸運動的電動X-Y級和高強度0-200克Z軸力反饋設備。該站具有經過優化的低噪聲地板和TTL/DC級信號完整性保護系統，可提高高噪聲環境下的信號質量。ELECTROGLAS EG2001X還配備了提供細線晶圓對準精度的高速電子束對準裝置。它還具有專利的基於功率的晶圓壽命估計器，並有一個全自動校準程序。該站采用溫度補償鋼框架，在惡劣環境下最大限度地減少翹曲，並具有靈活的探測解決方案，以滿足特定的應用需求。探測站裝有一系列球尖探針，使用高級軟件定制探針極限，同時提供準確反饋。探針也可以用多點線性算法進行校準，以確保結果的最大精度和重復性。ELECTROGLAS/EG EG2001X還集成了一個精密的光學設定點對準機，使探針尖端能夠精確對準納米劃線，以便在厚晶片上進行快速和精確的探測。EG EG2001X提供了一系列高級測試選項,包括故障分析、嵌入式測試、ON和OFF測試以及表征。它還配備了可選的微型機器人，用於MEMS設備測試和大容量探測。該工具能夠提供自動晶圓探測解決方案，以及用於大容量應用的多晶圓探測解決方案。此外，ELECTROGLAS 2001X與高速時域反射計集成，以納秒分辨率對千兆赫頻率的波形進行精確可靠的測量。此功能可用於分析數字、模擬和混合信號波形,有助於減少測試時間和測試成本。總體而言，EG2001X是一種高效可靠的晶片測試和探測方法。它配備了電子束對準資產、精密光學設定點對準模型、TTL/DC級信號完整性保護設備、高速時域反射儀和可選微型機器人等尖端技術。這些功能加上一系列全面的測試選項,使2001 X成為高需求半導體測試和探測應用的理想解決方案。