二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9116534 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X prober是一種高速晶圓級探頭測試設備，設計用於提供半導體器件的精確和高度精確的測試。它能夠在多個節點上測試各種集成電路設備，並能夠測量操作。EG 2001 X是一個半自動化系統,集成了探測和處理技術,以提供實時反饋和危害保護。ELECTROGLAS EG2001X單元可容納直徑最大為6英寸的晶片，使晶片的裝卸方便快捷。該測試儀還采用閉環熱調節機，以確保穩定和可重復的測試結果。該工具還具有高度精確的自動探針定位模塊,可在每個探針周期中實現亞微米精度。這樣可確保相鄰測試點之間的重叠最小化,並確保正在測試的設備與探測器之間的探針間隙一致。ELECTROGLAS/EG 2001 X還擁有每小時高達902,000個探針的高速資產,從而縮短了測試時間,減少了整個晶圓周期的時間。該模型具有多個I/O引腳、每個引腳上的電容耦合以及集成的引腳故障檢測功能,允許測試高密度IC設備而不會損壞它們。除了探測能力外，設備還包含一個集成的晶圓處理程序。該晶片處理程序能夠安全地在晶片碼頭和探頭之間運輸晶片，以最大限度地提高測試吞吐量。EG2001X系統提供了一個高度可靠和高效的測試解決方案,能夠容納各種各樣的晶圓尺寸和集成電路設備。該裝置的輔助裝置和集成的熱和針腳故障檢測功能使其成為測試單模具和多模具IC的理想選擇。ELECTROGLAS 2001X具有集成的處理器、高精度的重叠測試可能性以及快速、精確的晶圓探測操作,使其成為半導體制造和集成電路設計的寶貴工具。