二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155072 待售

ELECTROGLAS / EG 2001X
製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
2001X
ID: 9155072
Prober Table: High Operating system: Prober vision,DA (Disk) Ring carrier: RC-2 Profiler: piston Microscope: Olympus SZ-30 Chuck top: 6 Inch gold-ambient Align camera: Cohu-zoom Z Stage: PZ-150, 0.5-mil DAR Resolution: Low Handler type: 6 Inch belt track Vision module: Cognex PRM-2 Power requirement: 220 Vac Air requirement: 80 psi Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X Prober是一種高性能並行、自動化的測試設備,專為半導體晶圓推動和探測操作而設計。它是一個可靠和經濟高效的工具,旨在處理各種刺激任務,包括晶圓探針測試和參數監測。EG 2001 X非常適合最新一代的高性能半導體技術。Prober提供了先進的掃描能力、全面的運動控制、靈活的推動和自適應運動控制。它配備了帶有直觀圖形用戶界面(GUI)的控制界面,廣泛的prober選項,以及全自動操作。該系統的運動控制特性允許它用於各種探測應用,從全堆疊晶片的自動測試到中針穿透和3-C探針能力。運動控制還能夠提供探針力和晶片存根的精確和可重復的位置。ELECTROGLAS EG2001X Prober的掃描功能可以根據個別需求定制,包括多級掃描、垂直掃描和耙子掃描功能。此外,它還提供內置的電氣校準功能,以提高精度。該機組配備了4微米的加速prober精度,可用於各類IC和光電器件。該機的精密設計提供了自動調平支持、自動芯片跟蹤和校正、用戶定義的堆積檢測、高速信號和直流分析等多種功能,以及一系列方便訪問的外部端口,可控制多種功能。2001X Prober還具有非常高效的工具配置,允許用戶為每個應用程序配置資產以實現最高效率。此外,prober還配備了嵌入式、高性能的返工模型,用於缺陷IC的修復和返工。此外,設備還提供專業維護、數據監控、成像和打印功能,方便高效的數據采集和分析。高效可靠的ELECTROGLAS 2001X Prober是最新一代半導體技術的通用、經濟的測試工具。其全面的特性和功能使其成為半導體制造商的寶貴資產。
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