二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155115 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X prober是一種自動化設備，用於測試和分析半導體晶片的電氣特性。用於集成電路和晶片的質量保證和可靠性測試。它為各種設備的復雜測試和探測提供了高可重復性和可靠性的準確結果。EG 2001 X prober的設計基於其光學設備的模塊化構造，提供了多功能性和靈活性。該系統由光學頭、透鏡組件和控制器組成。光學頭可以在二維平面的x、y、z軸中移動寬範圍的探針。它具有集成的電動顯微鏡和可自動調整的電動聚焦，以獲得最佳聚焦。探頭持有者可以支持各種針對不同測試場景設計的探頭，運動可以用數字和模擬命令控制。ELECTROGLAS EG2001X prober的鏡頭單元采用先進的光學元件和設計原理，提供最大清晰度，計算機控制的圖像恢復和放大調節，變焦能力。控制器由一臺基於微處理器的機器組成，該機器可以控制prober的所有方面，包括運動、信號采集、數據存儲和分析以及報告生成。外部用戶界面可用於與程序測試和程序測試進行交互並分析結果。ELECTROGLAS/EG EG2001X prober可用於分析多種參數,如導電特性、電阻、電容、泄漏電流和熱效應。可以在工具的交互式用戶界面上清楚地顯示每個參數的測量值和數據。此外,操作員還可以訪問和編輯prober的功能,如移動、掃描、參數設置、測量和數據記錄。總體而言,ELECTROGLAS 2001 X prober非常適合大批量生產測試、過程監控以及研發工作等應用。其光學資產、控制器和用戶界面使其能夠精確、精確地測量和分析廣泛的樣本類型。