二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155120 待售

ELECTROGLAS / EG 2001X
製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
2001X
ID: 9155120
Prober Table: High Operating system: Prober vision.CE (Eprom) Ring carrier: RC-1 Profiler: Piston Microscope: Olympus 99 Chuck top: 6 Inch gold-ambient Align camera: Cohu - zoom Z Stage: PZ-150, 0.5-mil DAR Resolution: Low Handler type: 6 Inch belt track Vision module: Cognex PRM-2 Power requirement: 220 Vac Air requirement: 80 psi Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X Prober提供了一套全面的微電子測試和探測能力。該系統提供高價值的操作和配置,能夠對精細的IC進行完整的表征和復雜的測試,從而產生精確的故障分析。EG 2001 X Prober旨在最大限度地提高投資回報。它最大限度地提高速度和準確性,同時跟上技術的快速變化。Prober通過完整的軟件控制、直觀的圖形用戶界面和符合人體工程學的設計增強了可用性和可靠性。強大的卡盤內控制器可最大程度地減少信號串擾,同時通過單個連接進行操作。它具有精確的伺服運動控制,以確保精確的尖端放置和探針與火焰的接觸。支持50個和100個TPI探針,並增強了尖端保護功能,可延長使用壽命,持續數年的可靠運行。配備了20個通道,prober支持使用TestJet、TLA、固定和可移動探針、WaferJet和自定義正弦波的多種測試。此外,ELECTROGLAS EG2001X還提供高精度、高速測量和數據記錄功能的50Ghz探針放大功能。數據捕獲和分析功能允許動態過程優化。高級計時功能允許快速循環和步驟測試。Prober的高速數據采集通道可以捕獲快信號和慢信號。分析板提供探測節點的詳細診斷、電流和電壓測試、波形監測和AC/DC參數測量。ELECTROGLAS 2001X Prober提供多站點測試功能,包括自定義定時引腳、突發脈沖掃描、自定義測試和自動數字識別。Prober還具有功能齊全的分析功能,包括直方圖、統計測試、自動矢量映射和周期/程序定時。集成編程程序增強了協議和自動化。它支持JEDEC、Silicon Connector、TLA3000和WaferJet通信格式,以最大限度地擴大測試覆蓋範圍。2001X Prober提供自動化的設備編程和靈活的精確故障隔離平臺-所有這些都具有更高的吞吐量。
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