二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9155129 待售

ELECTROGLAS / EG 2001X
製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
2001X
ID: 9155129
Prober Table: High Operating system: Prober vision.CE (Eprom) Ring carrier: RC-2 Profiler: Piston Microscope: Olympus 99 Chuck top: 6 Inch gold-ambient Align camera: Cohu-zoom Z Stage: PZ-150, 0.5-mil DAR Resolution: Low Handler type: 6 Inch belt track Vision module: Cognex PRM-2 Power requirement: 220 Vac Air requirement: 80 psi Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X prober是一種先進的晶圓測試設備,設計用於高精度探測。它能夠以快速的吞吐量執行復雜的測試序列,使其成為集成電路生產過程中必不可少的一部分。EG 2001 X prober是由探頭、測試頭、隔振單元和射頻屏蔽組成的第8代系統。該機配備了高分辨率的光學編碼器,在每個測試地點提供精確且可重復的探測,最高分辨率在1微米以下。這使得該工具可用於測試高級IC,如內存、模擬和數字邏輯設備。測試頭包括一個機械庫,可容納多達16個PCB或薄膜基板。每個PCB最多可容納4500個設備。測試頭還包括可與數字和模擬測試系統以及SMU和RCU連接的計算機控制資產,用於高速和精確的探測。探頭設計為支持所有類型的設備包。它包括多達32個可以快速更換的浮動接觸器,以及傳感範圍高達10牛頓的8個力傳感器。探頭還包括具有彈射能力的全註入混合室,以及晶片斷裂檢測器。隔振模型減少了振動、沖擊、靜電荷和靜電放電引起的位移和力。其專利設計保持低調配置,占用最小的地板空間,並且可以快速重新配置以滿足生產需求。ELECTROGLAS EG2001X prober是一種高度可靠的晶片測試設備,旨在提高測試周期時間和產率,同時降低測試成本。該系統包括多種功能,可在每個試驗場提供準確和可重復的探測,以及用於精確測試結果的隔振和射頻屏蔽。它是在大批量生產環境中進行高級IC測試的理想解決方案。
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