二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #9398570 待售

ELECTROGLAS/EG 2001X是設計用於半導體測試和分析應用的多功能prober。此Prober提供了廣泛的功能,包括執行集成電路的電氣測試和探測（包括具有細螺距引線的電路）的能力,以及物理探測（包括X射線斷層掃描的功能）。EG 2001 X prober有一個可定制的高速多軸級，可以用來快速準確定位標本。它利用可編程的圖形用戶界面，允許用戶精確設置所需的位置。該探頭具有獨特的電容式移動頭，可提供出色的電接觸，以確保可靠的探測結果。它使用壓電驅動的晶圓調平器在探測前對樣品進行調平。晶圓調平器還增強了測試站點和探頭之間的接觸。Prober的設計最多可容納八張測試卡，可以方便地裝入機器進行測試。設備配備了高分辨率CCD相機和圖像處理能力，允許對捕獲的圖像進行操縱，使其適合分析。它還有一個光學顯微鏡，提供探測器和測試地點的詳細圖像，允許更精確的探測。它還配備了高速掃描電子顯微鏡，能夠產生用於故障分析的試驗場的亞像素級圖像。ELECTROGLAS EG2001X prober系統通常與專門的晶圓探針結合使用,例如Agilent 9500系列或GSI-MicroTec MMC-9000。它也用於測試處理程序和其他外圍設備，如冷卻器、溫度/壓力控制器和數據采集/分析系統。此外,該單元還能夠為集成電路或子組件供電並進行測試。ELECTROGLAS/EG 2001 X prober是一種用途廣泛的工具,非常適合半導體器件的測試和分析要求。由於其先進的硬件和用戶友好的圖形用戶界面的結合，它能夠提供可靠的探測和測試結果。此外，該機設計用於快速設置和測試，以及易於維護和升級。該工具為任何半導體器件測試和分析應用提供了功能強大且經濟高效的解決方案。