二手 ELECTROGLAS / EG 3001X #293604678 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
3001X
ID: 293604678
晶圓大小: 8"
Prober, 8".
ELECTROGLAS/EG 3001X是一種用於測試集成電路和其他半導體器件的電氣特性的探測器。它能夠探測各種類型的電路,並且能夠產生高分辨率的數據,從而能夠對被測試設備的電子特性進行徹底的評估。EG 3001X包括三個主要組成部分:探測站、探頭和控制電子設備。探測器工作站用於對準和定位探測器,並在執行測試時提供穩定的環境。它還包括一個探針縮回機構,以保護微妙的電路在測試過程中免受損壞。探頭包含實際接觸正在測試的設備的prober組件。它可能包括不同大小和形狀的多個探針,允許測試不同類型的芯片。它還可能包括用於保護探針在測試過程中不會移動的機械臂。控制電子設備由相互連接的計算機組成,用於測量、記錄和存儲來自探測器的數據。ELECTROGLAS 3001 X具有廣泛的特性,包括精度0.2微米、可編程邏輯功能、高速邏輯分析儀和GRAIL網絡適配器。此prober還支持各種測試包,包括SSA、WSA和CSA。3001X設計用於實驗室、大學和其他研究機構。它是測試分析集成電路等半導體器件電性能的高效可靠的器件。
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