二手 ELECTROGLAS / EG 4090 #293592483 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090
ID: 293592483
優質的: 2000
Prober Commander version: WIN EGC 7.3.8 DCM Version: DCM 4 VM Alignment system Z-Stage: 0.125 Chuck material: Gold Chuck type: Hot LCD Monitor Material handler module Display control module Prober control module Vision module OCR Camera Bridge camera: COHU 2000 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4090是用於半導體測試和探測的超現代多器件prober。它具有用於復雜集成電路和技術節點的高分辨率、大規模生產應用。該探頭具有可重復、精確的探測和采樣功能,並具有自適應增益控制功能,可用於有效的探頭例行操作。EG 4090還配備了一系列靈活的測試設備選項、可配置的硬件和軟件,以及高速掃描功能。ELECTROGLAS EG4090將高端探測和精確采樣與廣泛的集成組件結合在一起。它能夠執行復雜集成電路的高分辨率探測、高速采樣和大規模生產環境等各種任務。該探頭提供了一個高效的探針常規操作與亞微米分辨率和準確放置針尖。Prober可配置的硬件組件包括自動prober控制設備、AC驅動的伺服/線性步進電動機、通用對接站、樞軸臂、防振動系統和交鑰匙單元接口。這允許用戶自定義其prober的設置,並且在運行特定測試時具有廣泛的選項。集成樣機還包括160點內存板,有助於簡化重復測試周期。4090附帶了一系列測試設備選項,例如信號分析儀、噪聲分析儀和時域反射計。信號分析器具有高精度捕獲功能,可幫助用戶檢測信號異常並減少調試時間。噪聲分析儀提供了對最惡劣信號環境中信號行為的洞察力。利用內置的時域反射計,用戶可以測量被測電路的信號傳播和反射特性。ELECTROGLAS/EG EG4090 prober還具有強大的軟件解決方案,包括用於自動數據捕獲、數據解釋和數據處理的軟件解決方案。這使用戶能夠高效地自動執行測試過程並優化其周期時間和吞吐量。Prober還支持各種語言,包括英語、中文、日語和韓語,並且可以容納任何用最現代的語言和腳本創建的過程。總體而言,EG EG4090是一種先進和可靠的探針,它提供精確和可重復的針尖定位,以便進行高效和準確的探測和采樣。它具有眾多集成組件、可調硬件、堅固的軟件以及各種用於生產的測試設備。此外,它的高分辨率、可配置的設計使其成為多設備處理器的絕佳選擇。
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