二手 ELECTROGLAS / EG 4090 #293606517 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090
ID: 293606517
晶圓大小: 6"-8"
Prober, 6"-8" Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090是一種前沿探頭,設計方便半導體晶片的自動化測試。這臺機器是EG 40xx系列的一部分,針對精度和速度進行了優化,能夠在一個通道內測試多個晶片,使用專用的XYZ運動設備和高級金剛石晶狀體,能夠在極寬的動態範圍內進行高分辨率、重復性和整體精度的探測。EG 4090的組件包括x和y級、z軸和動態數據調整。X級和y級由堅固、高性能的交流伺服電機驅動,提供2.5 μ m的定位分辨率。Z軸由直流伺服電機驅動,提供0.25 μ m的堆叠定位精度。精確度和速度的結合使得ELECTROGLAS EG4090一個強大的PROBER來支持日益增長的半導體制造過程的需求。探頭由一種專有的動態數據調整算法控制,它提高了ELECTROGLAS 4090的整體分辨率和準確性。其精密的剖面跟蹤系統能連續識別和分析表面特征,而垂直壓力穩定單元則在大Z軸運動上提供恒定的飛行壓力。多項附加功能使ELECTROGLAS/EG EG4090一個出色的prober,如其X和Y軸30 mm的大工作區,Z軸300 mm,單色5.7英寸液晶顯示屏,以及提供探頭和刀具狀況實時監控的集成故障檢測機。EG EG4090還集成了強大的軟件以支持其測試功能。其中包括探測操作系統、用於定義晶圓映射的探測配置、自動晶圓映射、便於實時數據可視化的探測數據查看器以及泄漏/C-V測試軟件包。硬件和軟件的整體結合使EG4090成為一種功能強大且用途廣泛的支持工具,經過優化,可以測試後來的小型化半導體技術。
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