二手 ELECTROGLAS / EG 4090 #9070789 待售
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ID: 9070789
Prober
Hot chuck Nickel
EG4090 base unit
Automatic PTPA / needle height aligment
Direct Probe Sensor II (DPS II)
Probe-to-Pad Optimization (PTPO)
Probe Mark Inspection (PMI)
Ink Dot Inspection (IDI)
Wafer Stepping and Scaling Calibration (WSSC)
Automatic Probe Cleaning and Continuity Pad
Chuck Probe Contact Sensor II (CPCS II)
RS232C, TTL (parallel I/O), GPIB (IEEE-488)
EG Enhanced, RDP
Network Interfaces* Ethernet (10/100 Mbps)
Real time wafer map display
Group index
Multi-pass probing
Soak time
CE marked
Bump height setting
St 3 color signal tower
Service manipulator (tester supplier)
Head plate with Top load 9.5" (241mm RC2)
Software: EG Com ver 7
DOS computer
Z-Resolution: 0.25 mil.
ELECTROGLAS 4090 Prober是一種半導體自動化測試設備（ATE）。它設計用於半導體器件的高速測量和電氣測試，集成了晶圓探測、晶圓分選和詳細的器件表征。Prober具有集成的XY定位表,範圍為1到4英寸,允許將設備或樣品輕松準確地放置到測試位置。此外，該螺旋槳利用主動電子對準來快速準確地放置設備，並利用Autoscan函數來進一步提高對準精度。4090 Prober包含四個模擬和數字測試電路通道,允許對晶圓I/O和設備性能進行快速、一致和可靠的測試。Prober還包括waferChuck,它在prober和被測試設備之間提供自動接觸保護和機械電氣隔離。ELECTROGLAS 4090 Prober還具有豐富的過程控制和分析工具。這包括Autoselect和Autograph功能,允許在監視產量、趨勢和性能參數的同時自動選擇設備和顯示圖形晶圓。該程序還包含內置的統計分析功能,這些功能允許在短短幾個步驟中對數百個測試結果進行數據關聯和分析。此外,4090 Prober還提供了直觀的圖形用戶界面（GUI）。GUI使用戶能夠快速了解prober的功能和命令,並快速準確地運行測試。Prober還提供了廣泛的資源和工具來幫助用戶快速開發自己的探測程序，並且可以在庫中組織自定義的腳本以便以後重用。總體而言，ELECTROGLAS 4090 Prober是高速測量和半導體器件電氣測試的絕佳工具。它集成了方便準確的晶片探測、晶片分選和設備表征功能，以及直觀的過程控制和分析工具。Prober為用戶和工程師提供了一個強大而有效的解決方案,用於快速準確地測試半導體器件。
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