二手 ELECTROGLAS / EG 4090u+ #293589312 待售
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單擊可縮放
ID: 293589312
晶圓大小: 6"-8"
Frame prober, 6"-8"
Automatic loader
With wafer ID Reader (OCR)
Cassette
25-Slots
System accuracy (X, Y, Z): ±4 µm
Probe-To-Pad Optimization (PTPO)
Probe Mask Inspection (PMI)
Ink Dot Inspection (IDI)
Self tech auto align
Probe cleaning and continuity pad
RS232C
TTL (Parallel I/O)
GPIB (IEEE-488)
PCI Ethernet bus
PCB network speed: 10 MHz to 100 MHz
No temperature and humidity control
Operating system: Windows NT
Non-functional parts:
Bridge camera
PDAR Board
Displayer
Missing parts:
DCM VGA Card
Vision control board.
ELECTROGLAS/EG 4090u+Prober是最先進的探測解決方案之一。EG 4090 U+是一種用於高速、高密度探測應用的多應用多探針探測器。利用先進的多探針技術,可以測量各晶片或系列晶片上不同位置的電氣特性。它有一個單程機械臂,能夠同時晶片,模具,和子模具探測的高精度和速度。這允許用戶快速、準確地測試多個設備,而無需切換探測器或調整設置。該設備還具有較大的探測區域,可實現高吞吐量,並結合了先進的視覺系統,可準確高效地定位測試地點。再者,ELECTROGLAS EG 4090U+使用了功能強大的集成計算平臺和高級軟件,可以支持不同的探測應用系統。它可以處理多種自動探測算法,如設備連接、多站點系統探測和故障定位。而且軟件還可以控制測試參數、晶片到探針的連接以及探針對準。ELECTROGLAS 4090 U+Prober配備了電動XYZ級,為詳細的探測操作提供精確、均勻的運動。此外,設備還可以存儲多個探測器位置以進行進一步探測。它還具有符合人體工程學的設計和易於訪問探針卡的功能,使操作員能夠在需要時快速重新配置探針。此外,ELECTROGLAS/EG 4090 U+Prober集成了先進的光電監測機,與各種激光測高設備配合使用。這樣可確保探針始終與晶片正確對齊,並保持最佳探針尖端位置。此外,它還可以檢測晶片汙染,確保只探測幹凈晶片。總體而言,4090 U+Prober為大型高速探測操作提供了可靠的解決方案,能夠支持不同的應用程序系統。其通用的設計和集成的軟件為測試和診斷提供了無與倫比的靈活性和準確性。
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