二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #293589335 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090u
ID: 293589335
優質的: 2000
Prober Commander version: DOS EGC 7.3.8 DCM Version: DCM 2 Option: Thin wafer VM Alignment system Z-Stage: 0.125 Chuck material: Nickel Chuck type: Hot LCD Monitor Material handler module Display control module Prober control module Vision module OCR Camera Bridge camera: COHU 2000 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4090u是一個使半導體器件探測過程自動化的prober。它能夠在廣泛的工作溫度範圍內提供快速、精確和自動化的晶圓探測。該機設計用於各種設備架構的高密度探測和測試,提供高吞吐量、精確的對準和傳輸,以及對各種半導體探針的高效處理。通過這些功能,EG 4090u在半導體生產操作中提供了更大的靈活性和產量。ELECTROGLAS 4090 U的機電設備既有生產力又有精度。它配有「滑塊」系統和電機驅動的直線軸承,在廣泛的工作溫度範圍內支持高橫向精度和可重復性。此外,高級控制單元還設計用於平滑機械過程的動態響應,即使在高探測速度下也能提供精確的精細對準和平移。4090 U還附帶了一套全面的高級探測能力。先進的接觸算法允許精確但高度靈活和可重復的探測。Metrology Edge Probe技術提供了測試超小型特性的新方法,例如在高級節點上的微凸點和精細間距墊等。此外,機器的集成高速靜電卡盤(ESC)允許高溫晶片處理,而無需使用額外的真空系統。4090u還提供了用於檢查和探測超低調組件的脫機功能。該工具的高級探測功能集包括觸控探測、電應力測試和掃描技術,允許用戶精確驗證設備特性。此外,該資產還具有能夠精確對齊、定位和檢查部件的集成視覺模型。最後,EG 4090 U是一種功能強大且用途廣泛的Prober,它提供了復雜的探測能力和可靠的自動化。它旨在滿足各種半導體生產操作的極端要求,提供高速晶圓探測、精確的對準和傳輸以及對各種設備體系結構的高效處理。該設備旨在為提高產量和加快生產速度提供可靠、經濟高效的解決方案。
還沒有評論