二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #293589344 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090u
ID: 293589344
優質的: 2002
Prober Commander version: DOS EGC 7.3.8 DCM Version: DCM 2 VM Alignment system Z-Stage: 0.125 Chuck material: Gold Chuck type: Hot LCD Monitor Material handler module Display control module Prober control module Vision module OCR Camera Bridge camera: COHU 2002 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4090u是一種自動化晶片prober,設計用於半導體晶片、裸模和單晶片的自動測試。該prober的特點是一個機械臂能夠在三個軸線-X,Y,和Z-和四點探測設備。探頭堅固的設計可以容納直徑達200毫米的半導體晶片。高分辨率、可編程的雙軸樣品分級系統允許精確放置晶片,而四點探測單元則確保準確和可重復的接觸。該機器有四種不同的探測技術:高分辨率x-y (XY)、力控制、接觸自動化和互連。XY探針提供了不到1微米的可靠放置精度,以及一個安全支持晶圓探針的三維集成移動工具。力控探頭提供了非常快的夾緊速度和不妥協的性能,從而提高了吞吐量。接觸自動化探針是為高可靠性接觸性能而設計的,即使在自動回流環境中也是如此。互連探針使得評估線鍵和其他互連特征成為可能。該資產還具有先進的掃描算法,以確保準確和可重復的探測。專有軟件可以對四種探測技術中的每一種進行獨立掃描。該模型的先進反饋控制算法提供了可靠的性能和更高的測試吞吐量。EG 4090u還可以配置可選的攝像頭設備,用於實時監視晶圓探測器站點。該系統的其他功能包括晶圓處理單元、故障檢測機和晶圓對準工具。晶片處理資產包括一種特殊的卡帶模型,它以多種格式存儲和傳輸晶片。故障檢測設備使用戶能夠在探測之前檢測到故障站點。晶片對準系統允許晶片的精確定位,確保準確和可重復的探測結果。該單元直觀的圖形用戶界面為操作員提供了方便和直接訪問機器的各種功能。
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