二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #293606469 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090u
ID: 293606469
晶圓大小: 6"-8"
Wafer prober, 6"-8" Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090u是一種用於測試和分析集成電路設備的prober。它是為晶片的高速探測和模具級設備測試而設計的。EG 4090u允許用戶操縱壓力、力、速度等多個參數,以獲得準確的測量結果。ELECTROGLAS 4090 U具有高速XY掃描儀,可用於高速、高精度探測的測量。ELECTROGLAS 4090u的掃描循環速率高達400 Hz,允許對設備進行高速測試。它還有一個閉環Z軸自動對焦設備,可以自動檢測設備中的缺陷,並保持被測設備(DUT)和探頭之間的一致接觸壓力。這樣可以確保獲得的測量結果準確,而無需手動調整設備位置。ELECTROGLAS/EG 4090 U有一個大型模具級微波補償系統,有助於通過最小化機械部件引起的振動來減少測量誤差。它還具有SPC(統計過程控制)功能,允許用戶在測試前檢查過程變化並檢測設備上的任何潛在缺陷。4090 U有一個專利對準單元,稱為校準對準機(CAS),允許探針和被測裝置之間的對準。CAS還具有二維對齊工具,有助於確保更精確的對齊。此外,CCD(電荷耦合器件)圖像傳感器有助於在對準過程中提供更好的模具視圖,允許用戶快速對準探針和器件。EG 4090 U具有遠程診斷資產,允許用戶跟蹤和分析測試過程,即使他們不在測試現場。這樣可以確保快速識別和解決與探測器相關的任何問題。4090u有一個符合人體工程學設計的面板,這使得用戶可以很容易地操作prober以最小的努力。用戶面板具有啟用Web的用戶界面,允許用戶檢查、查看、創建新協議或修改現有協議或設置。最後,ELECTROGLAS/EG 4090u是一種先進的探頭模型,設計用於高速和高精度探測。EG 4090u憑借其獲得專利的對準設備、CCD圖像傳感器、遠程診斷系統和符合人體工程學設計的面板,為集成電路設備提供了準確可靠的測量結果。
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