二手 ELECTROGLAS / EG 4090u+ #293606499 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090u+
ID: 293606499
晶圓大小: 6"-8"
Prober, 6"-8" Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090u+是一種設計用於半導體測試和故障分析的prober。它能夠探測復雜的布局,如多芯片模塊和精細間距集成電路。EG 4090 U+prober提供了多種功能,使探測和測試比以往任何時候都更快、更輕松。Prober配備了功能強大的計算機、軟件和硬件,可實現精確、準確和快速的探測。運動部件的高速運動由X-Y-Z軸啟用,使得多個晶片被掃描和探測的速度比其對應的要快。此外,ELECTROGLAS EG 4090U+還集成了一個快速高效的數據傳輸接口以及高級邏輯控制和高分辨率探針尖端控制,為用戶提供了精確和精確探測所必需的工具。EG 4090u+能夠高速探測和測試各種組件和技術節點,從而減少了完成每個測試和探測過程所需的時間。利用它的自動化套件、高速掃描路徑和算法,這個prober被設計為允許用戶提取高質量的測試結果,並有效地進行精確的探測。ELECTROGLAS 4090u+具有多種有助於其精確度和速度的特性,如先進的遠景、超精密探針尖端和高分辨率視覺傳感器。此外,prober還具有先進的邏輯控制、高速數據傳輸和快速探測功能.這些功能有助於獲得可靠的結果和快速測試。Prober設計為易於導航和控制以訪問測試參數的軟件,以及易於訪問測試和探測數據的用戶友好用戶界面。ELECTROGLAS 4090 U+能夠探測、測試和診斷多種設備的多種技術。其通用的設計和可靠的操作允許在各種組件和設備中進行測試。此外,此Prober還提供了EG的最新技術,為復雜的設備類型提供了高級級別的探測和測試。EG EG 4090U+是一種功能強大、可靠的半導體測試和故障分析工具。其高速操作和通用軟件相結合,為用戶提供精確、準確和高效的測試和探測過程。集成的特性和高分辨率的傳感器使這種傳感器成為任何研發實驗室所必需的。
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