二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #293606503 待售

ELECTROGLAS / EG 4090u
製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090u
ID: 293606503
晶圓大小: 6"-8"
Prober, 6"-8" Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090u是一款專業的高精度探測器,具有獨立和自動探測功能。它提供各種設備類型的高分辨率分析,如集成電路、離散板和裸板。此Prober提供了出色的可重復性,可轉換為高精度性能和高吞吐量。EG 4090u prober具有低振動高速平面掃描運動。它以始終如一的高精度和高精度提供了高效、準確和可重復的基板和設備特性測量,是集成電路開發和分析的理想選擇。ELECTROGLAS 4090 U可以探測多種設備尺寸,從細間距IC到12英寸的設備,最小可達到1 mil的軌跡、墊和空間,還可以使用最小間隙頻率技術探測高達0.5 mil的間隙。ELECTROGLAS 4090u prober輕巧剛性的結構允許高精度晶圓探測,重復性優於10微米。ELECTROGLAS/EG 4090 U prober有許多高級功能。它擁有通用的prober運輸設備和兼容的prober夾具。它支持C軸旋轉,提供完整的360度半導體器件覆蓋。C-Axis還提供「對角」探測,用於球柵陣列和封裝設備類型等短軌跡測量。在手動和自動模式下使用的耐胺不銹鋼覆蓋表有助於確保測量時的偏差控制,以確保精度。該系統支持各種自動化測試,從標準半導體測試到天線分析。4090 U prober可用於故障分析、生產監控、生產測試等多種應用。該單元還支持多種測試系統,如網絡分析儀、矢量網絡分析儀、阻抗計和曲線示蹤儀。總體而言,4090u是一種高性能的處理器,能夠在各種基材和設備類型中實現高精度晶圓分析。其低振動平面掃描運動保證了高重復性和低噪聲性能。Prober的先進功能包括獨特的通用prober傳輸機、C-Axis旋轉以及耐胺不銹鋼覆層表,以獲得最佳精度。EG 4090 U prober具有出色的精確度、重復性和性能,可用於多種應用。
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