二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #293767853 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
ELECTROGLAS/EG 4090u是一種用於半導體生產開發的prober。它旨在測試半導體器件和電路,主要是使用先進的矽技術構建的器件和電路,例如SOI(絕緣體上的矽)和3D STI(淺溝槽隔離)。這款最先進的prober具有緊湊的占地面積和健壯的6軸晶片級,提供了高精度光學掃描和慣性掃描模式的獨特混合組合,提供了從晶片級到亞微米級的高速器件測試和表征。EG 4090u是一種雙模螺旋槳,具有先進的運動控制設備,可在多種任務中實現高精度和高速運動。運動系統允許在同一區域上多次通過,最大速度高達2m/s,最大加速度為25g。使用壓電傳感器和分辨率為1微米的線性編碼器陣列實現高精度定位。Prober還有一個晶片級,帶有彎曲的X-Y-Theta軸,每個方向的總移動範圍為± 10mm,同時允許超低偏移誤差。晶片級可用於各種環境的探測,如標準清潔室、低溫吸塵室或氦氣手套箱。此外,ELECTROGLAS 4090 U還配備了一個先進的視覺單元,用於多點對準,以便進行一致且可重復的探測。Prober由業界領先的基於Windows的用戶界面提供支持,該界面與功能強大的以設備為中心的探測和軟件開發工具集成在一起。該軟件允許自動探測、工作流自定義以及與外部平臺和數據庫的程序集成。該探頭還配備了一臺高端探頭機,可選擇六個電子束或懸臂探頭卡。該工具針對最高精度和可重復性進行了優化,適用於各種探測要求。總體而言,4090u是為滿足現代半導體生產和試驗操作的需要而設計的先進的prober。它具有高精度和可重復性,具有快速、多用途的探測功能,並配有強大的運動控制資產、高端軟件工具以及電子光束或懸臂探針卡。由於占地面積小,與外部平臺集成,適合在線生產以及設計和表征工作。
還沒有評論