二手 ELECTROGLAS / EG 4090u+ #293821914 待售

ELECTROGLAS/EG 4090u+ prober是一種設計用於半導體晶片精密探測的高性能測試和測量裝置。這種裝置能夠在晶圓和模具水平上對電氣特性進行可靠和可重復的測量。Prober配有兩個超高效探針卡,在x軸和y軸上提供高達100微米的分辨率,並支持高級電磁幹擾（EMI）濾波。EG 4090 U+還支持全方位的晶片卡盤尺寸，包括最新的6英寸和8英寸配置，允許同時測試許多晶片。Prober還配備了精密的軟件，為用戶提供卓越的實時探測能力。此軟件可配置為支持各種探測模式,包括自動化、手動和批處理操作。ELECTROGLAS EG 4090U+具有數據記錄、統計反饋和可編程警報等高級功能,可輕松跟蹤測試結果不完整並快速識別問題。Prober還配備了全面的、符合人體工程學的板載工作區,使其更易於訪問和調整組件。直觀、易於使用的圖形用戶界面（GUI）為用戶提供了測試數據的有組織視圖。GUI還允許用戶定義的對齊調整以進行更準確的探測。EG 4090U+具有先進的安全功能和監控功能,可確保安全和一致的操作。外部壓力敏感互鎖通過禁用電源傳遞和防止未經授權的操作,提供了一層額外的保護,使其免受潛在危害。強大的接地夾系統有助於最大程度地減少破壞性沖擊和潛在的短路,消除不必要的停機時間和潛在的損壞。總體而言,EG EG 4090U+是尋求可靠、高效的半導體晶圓測試需求的用戶的理想選擇。憑借其廣泛的功能和先進的安全控制,它確保為用戶提供卓越的性能和長期的可靠性。