二手 ELECTROGLAS / EG 4090u+ #9228667 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090u+
ID: 9228667
Wafer prober.
ELECTROGLAS/EG 4090u+是一款高性能、超精確、超高分辨率的prober,用於半導體行業探測測試半導體芯片和模具。它能夠以極高的精度和可重復性測試各種尺寸和形狀的設備。EG 4090 U+包括多種集成的高級功能,包括用於電極詳細成像和定位的3D掃描儀,以及用於精確通信、定時和控制的集成電弧檢測系統。ELECTROGLAS EG 4090U+的先進特性使其成為半導體晶片超精確測試的優越選擇。它配備了強大的掃描系統,以確保晶片的超高分辨率成像和探頭的精確定位。此外,自動顯微鏡系統允許自動光學定心和對準探針尖端。有了這些先進的功能,ELECTROGLAS 4090u+探針可以精確定位,具有令人難以置信的準確性和可重復性。此高性能prober具有與外部測試控制器的最先進的通信鏈接。它可以與各種測試控制器通信以管理測試序列,也可以直接與測試人員通信以與其他進程並行進行測試。通信鏈路具有雙向模式,用於快速、可靠的測試操作和實時數據記錄。這使得prober能夠集成到全面的工廠流程中。EG EG 4090U+還包含一系列增強的芯片處理功能。它旨在快速、準確地將芯片對準並高速加載到探針上。自動化和增強的晶圓處理也使得能夠同時精確放置和探測多個設備,即使具有挑戰性的幾何形狀。最後,ELECTROGLAS/EG 4090 U+是一種高性能、超精確、超高分辨率的探測器,專為小型和大型半導體晶片而設計。它提供卓越的光學定心和對準、增強的晶圓處理以及強大的通信鏈路,可用於高級測試管理和日誌記錄。所有這些特性使ELECTROGLAS/EG EG 4090U+成為復雜半導體晶片超精確測試的理想選擇。
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