二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #9230524 待售

ELECTROGLAS / EG 4090u
製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
4090u
ID: 9230524
Wafer probers Chuck type: Hot chuck Ambient temperature: Up to 130°C Chuck top assy type: Gold / Silver Tester: Spyder, magnum, MAVERICK tester for wafer, 6" Docking tester, 12" Operating system: MS-DOS Probe to pad alignment: Manual and auto alignment Missing parts Power: 115 / 230 V.
ELECTROGLAS/EG 4090u prober是一種高精度探測設備,用於在器件和晶圓水平上測量薄膜和其他電子材料的電氣特性。它用於測試具有棋盤格圖案的組件或尺寸不超過.6mm的小墊子。該系統的高精度和可重復性是表征小型設備結構和進行小型電氣測量所必需的。Prober配備了由閉環伺服單元驅動的晶片級,可以在任意給定角度從均勻的點對點掃描,最大粒徑為5微米。它還采用自動晶圓載荷/卸載機構進行精確的調平控制。該機器還提供可靠的晶圓傳輸和條形碼讀取器進行樣本識別。EG 4090u還利用可選的頭內資源套件提供了廣泛的電氣測試功能。它提供了良好的合規性測試頭到晶片表面,以及廣泛的測試解決方案,不同的設備測量。這些包括精確的電流/電壓測量、電阻測量以及瞬態信號和波形的捕獲/分析。該工具還提供了全自動晶片級測試解決方案,稱為Hotstage™,用於同時測試相鄰模具上的多個設備。Hotstage™提供幹式接觸和電氣隙解決方案,用於非導電器件的測試,以及大型模具的溫度控制測量。ELECTROGLAS 4090 U的創新設計和優越的精確度,使得它可以用於片上資產(SoC)測試和封裝、翻轉芯片、光學模具封裝和壓降測試。其定義明確的探測方法消除了對易碎零件的損壞,並提供了極高的精度和可重復性的測量。整個型號設計為可調節和便攜式,允許快速和方便的設備重新配置和設置。其高速和自動化功能縮短了設備質量保證的測試時間,從而提高了吞吐量和降低了成本。
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