二手 ELECTROGLAS / EG 4090u #9284227 待售

ELECTROGLAS/EG 4090u是一種用於測試和分析半導體材料的prober。設計用於電氣探測、電容電壓（CV）特性探測和光學特性探測。它是一種高精度可靠的prober，可以掃描一個4英寸的樣品，分辨率高達0.2微米。Prober有一種名為「Scan-Sweep」的創新技術，允許快速測試和表征多個探測點。可用於測量電流、電容、電阻等電性能等參數；半導體閾值電壓、泄漏電流等CV測量；以及折射率等光學特性。EG 4090u具有溫度控制的卡盤，有助於保持探頭在一定溫度範圍內的穩定。探測到的設備可以移動到晶片上任何所需的位置,最大可達6毫米。ELECTROGLAS 4090 U所使用的探頭是專門為了減少被測裝置上的電容負載而設計的，使其適合於精確的測量。Prober還有一個數字控制器，允許用戶存儲多達99個探測程序，並提供各種探測策略，如並行測試和順序測試。用戶界面有一個大型液晶屏,可提供有關探測器狀態的信息,特別是包括探測器的坐標位置。ELECTROGLAS 4090u提供了一個自動測量控制系統，可監控、控制、記錄和保存探測結果，方便維護詳細的審計跟蹤。該程序由高吞吐量的計算機通道供電，能夠運行各種測量算法。Prober被設計為兼容最新的晶圓廠測量技術如電子束、X射線和電子顯微鏡。它也可以與Bias/Probe Units、Low Level Contacts、Magnetic Vacuum Probing systems等探測附件一起使用。總體而言，4090 U是測試和分析半導體材料的可靠而精確的載體。其創新的Scan-Sweep技術、高吞吐量的計算機通道、數字控制器和自動測量控制系統提供了準確高效的結果。