二手 ELECTROGLAS / EG Horizon 4080X #293767733 待售

ELECTROGLAS 4080X是一種用於半導體測試和組裝應用的晶圓器.此prober提供了高精度、速度和可重復性的強大組合。其先進的定位系統利用閉環雙伺服設計，提高探測精度，減少晶圓到晶圓的方差。4080X能夠在25毫米（1英寸）晶片上探測多達32個試驗點,在100毫米（4英寸）的行程上可重復性± 0.075 µm。ELECTROGLAS 4080X提供了廣泛的探測解決方案。它的「接觸向下探測解決方案」提供對晶圓上ATE針腳和選定測試站點的接觸向下和補償探測。OpenMapProber系統使用接觸下探測和光學定心，對晶圓周界位點和完整地圖矩陣進行高精度測試。精細間距對齊Pak （FPAK）允許使用模具連接或翻轉芯片與精確對齊的槳葉或接觸點連接。Multi-Position Reticle System （MP-RS）旨在在需要對齊多個測試站點時減少探測時間和設置成本。在測量方面，4080X提供了極其準確和可重復的結果。其步進電機配置在100毫米（4英寸）行程上具有0.075 µm的重復性,可確保精確的高分辨率測量。其先進的用於晶片映射器和自動RVP平臺的信號完整性電路接口使信號的保真度可靠且可重復。ELECTROGLAS 4080X還包括保護用戶和機器免受電擊的若幹安全功能,其中包括對接地腕帶、射頻屏蔽和ESD保護區的支持。其遠程操作功能便於從啟用Internet的設備進行訪問,從而允許遠程設置和監視prober及其參數。軟件界面是直觀的,它提供對prober功能的控制,如探測站點、測試結果概述和位置繪圖。總體而言,4080X提供了高精度、速度、可重復性和安全功能的強大組合,使其成為半導體測試和裝配應用的寶貴工具。ELECTROGLAS 4080X具有強大的設計和先進的技術,能夠提供準確、可重復的測量,滿足最苛刻的要求。