二手 FITTECH LFP6000 #293659505 待售

FITECH FITTECH LFP6000 prober是探測細膩半導體材料的高性能測試解決方案，為半導體材料的表征提供可靠準確的讀數。Prober配備了在測試位置之間快速移動的8軸掃描頭,允許以小至40 µm的超細分辨率自動探測材料。該程序能夠以可重復的精度和最小的讀數漂移來生成高質量的數據集。FITECH LFP6000防腐劑設計用於測試多種材料，如矽、氮化助理、氮化鋁，甚至石墨烯等特種材料。Prober使用Contact and Non-Contact系統，允許用戶快速準確地交換探測器。Prober提供晶圓掃描、模模探測、模包裝探測、電氣參數測量等多種功能。而且，prober有條形碼掃描儀，可用於快速讀取和存儲晶圓信息，進一步提高探測精度。利用快速的數據傳輸速率,優化了Prober以縮短周期時間.它還擁有一個真空夾緊系統與專利真空保持，允許緊密和可靠的樣品對準。此外,螺旋槳還可以選擇手動或自動晶片加載工藝.自動晶片加載過程允許更高的精度和可重復性。FITTECH LFP6000 prober內置了檢查功能以確保準確性。它利用各種計量系統和視覺系統來檢驗和驗證晶圓和模具的完整性。此外，prober還配備了原位缺陷顯微鏡，能夠在探測前自動成像可疑缺陷區域。總體而言，FITECH LFP6000 prober為半導體測試和表征提供了可靠準確的解決方案，具有多種探測功能和檢查能力。它是表征新的精細材料的理想工具,具有最嚴格的分辨率和可重復性要求。