二手 KLA / TENCOR 1007 #9012498 待售

KLA/TENCOR 1007是用於自動缺陷檢測和計量應用的最先進的探測設備。它是一種自動化的光學顯微鏡工具，設計用於半導體工業中的精密晶圓級分析。它允許快速分析半導體晶片的電氣特性，而無需手動操作和/或處理每個模具。KLA 1007 prober具有100 mm和150 mm晶圓兼容性、自動對接、自動化站點識別、優化樣品傳輸、可變高度氣動、高級成像和第三方工具集成等特點。該prober能夠收集晶片和單個模具的極細分辨率圖像，以進行更深入的分析。TENCOR 1007的設計可以容納多種基板，包括絕緣體上的矽、砷化​​氙、環氧化矽、藍寶石上的矽等。此外,其靈活的設計允許範圍廣泛的溫度變化,使操作從-45°C到+125°C。能夠容納大的氧化​​氙（BeO）和藍寶石-矽（SaSi）晶片，由於它們的厚度，是這種試劑的一個關鍵特征。該系統提供了一個可靠且可重復的對準程序來檢查每個模具。1007提供靈活探針卡樣式和自動接觸算法的平臺，通過提高精度和產量確保產品完整性。內置的擴展電纜組件減少了維護需求,而其四指驅動功能可實現更高的吞吐量,並保證定位精度。利用內置的Cam-iVision應用程序包,該單元能夠進行各種精確的測量,同時收集各種大幅面圖像。Cam-iVision軟件包還提供自動掃描模式、自動晶圓邊緣查找和數據分析功能。總體而言,KLA/TENCOR 1007 Prober提供卓越的電氣缺陷檢測和計量性能,同時簡化了分析過程。作為一臺綜合性機器,它提供多種特性和功能,旨在確保最佳設備性能和晶圓利用率。