二手 KLA / TENCOR 1007HF #141211 待售

KLA/TENCOR 1007HF Prober是一種最先進的晶片探測解決方案,旨在提供和檢查無與倫比的精度和吞吐量的自動晶片級設備測試。KLA 1007HF Prober為半導體制造商提供了前所未有的優勢,例如更快的測試時間、更高的精度和更高的產量性能。它具有高分辨率和高重復性，是工藝開發和測試表征的理想選擇。TENCOR 1007HF Prober具有經過驗證的開放式體系結構平臺,支持對多種晶圓類型和復雜設備結構進行測試和表征。它利用先進的探針，如間距控制晶片（PCW）、2-6維裝配車道切片晶片（ASW）和應用特定集成電路（ASIC）。1007HF Prober還支持具有幾種高速模式的單擊和多擊測試。KLA獨特的低級電氣表征功能使工程師能夠通過高速、高分辨率測量來推斷在晶片上收集的數據。KLA/TENCOR 1007HF Prober提供了一套可靠的測試算法,無論復雜程度如何,都能提供準確的結果。此外,KLA 1007HF Prober通過支持自動加載、卸載和排序功能來簡化測試過程。TENCOR功能強大的閉環探針控制技術確保測試步驟準確、可重復、可靠。TENCOR 1007HF Prober提供了一個軟件控制的解決方案,用於處理晶圓探測請求,並增加了強大的基於軟件的掃描加速功能。這使用戶能夠自定義掃描以獲得最佳性能和產量。1007HF Prober具有先進的視覺系統和一套高級成像功能。該系統準確檢測缺陷，確保只測試質量最高的晶片。它還測量和報告關鍵尺寸、adset和背景屬性。KLA/TENCOR 1007HF Prober非常靈活,能夠配置為單探針或多探針系統,提供無限的可擴展性和額外的性能。其緊湊的設計和模塊化的配置，使其能夠方便快速地進行改裝，以適應300 mm晶圓測試和高功率應用等專業。KLA 1007HF Prober是用於半導體器件測試的理想晶片prober解決方案,非常適合需要高性能和精確測量的測試實驗室。