二手 MPI LEDA-P7202 #9258060 待售

MPI LEDA-P7202是一種最先進的非接觸式探頭和非接觸式探頭定位設備,可提供廣泛的晶圓測試和分析功能。該探頭配有垂直掃描機構，以確保探頭與晶片表面精確對準。晶圓放置系統設計用於批量生產過程，可同時處理多個晶圓。該探頭具有獨特而復雜的功能集，可確保精確的晶圓定位和探針對準，從而獲得最佳性能。這包括利用大面積模式識別和定制算法分析晶圓表面地形的多傳感器定位單元。此外,該機器還包含一個3D晶片對準機構,可對其進行調整,使探針與晶片組件快速準確對準。此外，該加速器還包含一個超高精度晶片夾緊機構，可產生高達50牛頓的夾緊力，使晶片處理更加安全穩定。該探頭還具有集成的晶片和探針提升工具,可防止在探頭對準過程中損壞晶片。升力資產最多可調整至50毫米，並通過手輪或PC獨立控制，同時提供晶圓和探頭的精確和可重復定位。該方法的另一個重要特點是自動補償模型，該模型自動調整晶圓位置，以補償熱漂移和振動。該探測器還包括一個高分辨率成像設備，可用於檢查晶片測試結果，而無需機械接觸晶片。該系統包括數碼相機、激光照明和圖像分析軟件，允許用戶獲取準確可靠的數據。另外，prober可以配備許多其他光學系統，如光學顯微鏡、紅外和紫外光譜儀、X射線成像和傅立葉變換數字幹涉測量系統。最後,可以通過專用軟件或圖形用戶界面遠程控制prober。這使用戶能夠快速輕松地對設備進行編程、設置晶圓測試協議以及運行自動化進程。該prober還與許多行業標準接口兼容，如USB、GPIB、RS-232和以太網。總體而言，LEDA-P7202是精密晶片測試和分析的理想指標，提供高水平的性能和可靠性。它利用前沿技術和功能來確保準確和高效的探測,並且可以在大批量生產環境中輕松部署和操作。