二手 MULTIPROBE MP1 #9118406 待售
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單擊可縮放
ID: 9118406
晶圓大小: 12"
優質的: 2006
Atomic Force Prober (AFP), 12"
Micro probing transistors
(3) Probe heads
Probing enclosure
Electronic rack with controllers for heads
Optical microscope
PC
Includes:
Semiautomatic stage
Optics and probe head control
2006 vintage.
MULTIPROBE MP1是一種自動化的高精度晶圓探測設備,專為廣泛的測試應用而設計。它配備了適用於探測小觸點的100毫米電動刀刃直角探頭組件,以及用於探測較大觸點的200毫米槽刀刃圓柱形探頭。該單元有三個計量系統,一個激光/光掩模,一個電容式傳感器,以及一個編量器計量系統,使該單元能夠準確地在晶圓上放置探針。該單元還配備了先進的顯微鏡系統和各種用於測量觸點大小、形狀和方向的開發協議。MP1有一個可編程的接口,加上強大的軟硬件機器,可以用於各種高精度的測試應用。它靈活的內存、全套光學和光機械探針,以及先進的陣列設計功能,使它能夠在傳統手動測試所需時間的一小部分內完成多個晶圓探針測試周期。該工具能夠達到2 µm以下的分辨率,並且能夠在10MHz以下的多個頻率下進行測試。MULTIPROBE MP1設計用於高效制造高密度印刷電路板或探測一次性設計。嵌入式編程允許該單元在多種場景中使用,包括生產測試、實驗室測試和高級故障分析。該設備適用於需要高精度、速度和重復性的應用,如光學、射頻和電源設備。該單位還有一系列內置的計量系統,以確保位置和長度準確。MP1的超精確晶圓探測能力使其成為實驗室或工廠現場測試集成電路的完美解決方案。其強大的設計、超精確的探測技巧以及靈活的硬件和軟件使其成為任何測試應用程序的可靠且經濟高效的解決方案。
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