二手 NBK MPS-200 #9397408 待售

NBK MPS-200
製造商
NBK
模型
MPS-200
ID: 9397408
Wafer probe station.
NBK MPS-200是為精確測量和檢查晶圓結構、微粒汙染和半導體工業中的其他缺陷而設計的先進螺旋槳。配備先進功能,提高分析精度,減少分析時間和成本。MPS-200配備了高性能步進電機,可以檢測每一個運動,從而實現高精度的對準和可重復性的測量。它具有0.7微米的XY分辨率,可以在多種晶圓尺寸上運行。它的聚焦深度也得到了擴展,以適應廣泛的載體厚度和粒徑。NBK MPS-200可以配置各種選項,例如擴展的X/Y區域、自動校準站、真空處理程序、自動探針縮回設備和診斷系統。自動校準站允許高精度的圖像采集和穩定的位置進行精細測量。Vacuum Handler提供晶片拾取、保持和放置,並配有真空單元,可減少振動並提高穩定性和準確性。自動探針回收機可確保探針在傳輸和測量過程中能夠安全快速地安裝和收回。MPS-200的其他特點包括低振動、低噪聲、高精度、高測量速度和高性能多模紅外掃描和熱分析。利用NBK高級算法,可以檢測和定位晶片表面的任何缺陷,可重復性為正負0.3um,靈敏度至少為0.01um。此外,NBK MPS-200還配備了高性能圖像處理工具和存檔功能,使用戶能夠將測量記錄存儲在安全的數據庫中。這確保了測量和檢查的可重復性和準確性。此外,它還能夠對來自多個測量系統的數據進行綜合分析,使其能夠準確識別晶圓表面特征與其他因素之間的關系。綜上所述,MPS-200是一種設計用於可靠、精確晶圓測量和檢驗的先進螺桿。它具有先進的功能,有助於提高分析的準確性,減少分析時間和成本。
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