二手 NIHON MICRONICS / MJC MP-10-8 #9086733 待售

ID: 9086733
晶圓大小: 8"
Manual probe station, 8" Calibrated StereoZoom optics Probe card holder.
NIHON MICRONICS/MJC MP-10-8 Prober是一種完全集成的高速檢測設備,能夠測量各種半導體器件的電性能,如芯片、晶體管和集成電路(ICs)。該系統旨在精確測量設備的電氣特性,包括電氣響應時間、芯片尺寸和電阻。該單元還支持各種探測技術,如機械探測、電氣探測和反向探測。MJC MP-10-8 Prober能夠以高達15kHz的速度進行測量,並具有500根用於探測的針頭陣列。這些針安裝在可移動的手臂上,能夠與設備快速精確地接觸。針頭是可調的,可以安裝以容納各種尺寸的芯片和裝置。該機器包括用於監測環境的各種傳感器,可以很容易地連接到任何計算機進行數據收集和分析。NIHON MICRONICS MP-10-8 Prober有一個自動化平臺,可以輕松、準確地執行許多不同的測試。它配備了車載信號發生器和mal-probing探測器,以確保準確的結果。Mal-probing探測器的射程高達500 µm,可以檢測芯片上是否存在橋梁、短褲和其他故障。該工具包括驅動器電壓保護和短路保護,以確保不損壞設備。MP-10-8 Prober還有一個集成的PID反饋控制器,可以進行精確一致的探測。只要探頭在指定範圍內,就可以對控制器進行編程以保持穩定接觸。這有助於提高結果的準確性和可重復性。NIHON MICRONICS/MJC MP-10-8 Prober還包括一個先進、用戶友好的軟件包,使其易於測量、分析和存儲數據。該軟件包允許定制測試參數,並可用於調整參數(如溫度回路和壓力設置)。該軟件還支持打印輸出、圖形圖和統計分析等廣泛的數據分析功能。MJC MP-10-8是一種可靠、高速的prober資產,適用於各種應用。它非常適合在開發過程中測試設備或進行生產。NIHON MICRONICS MP-10-8的靈活性和效率確保了準確的測量和可靠的結果。
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