二手 PROBING SOLUTIONS 400 #9004364 待售

PROBING SOLUTIONS 400是半導體和微電子工業中用於晶圓探測和晶片測試的prober。它支持對電路和組件進行高精度、自動化的靜態和動態測試。Prober利用一套超精密、高級的測試夾具,以極高的精度和可重復性進行探測,以及一個允許高速、高分辨率捕獲測試數據的多元件傳感器平臺。它支持廣泛的晶片和基板，並為不同的設備特性提供多種測試模式。Prober的設計考慮到了易用性和靈活性。它具有大型液晶觸摸屏面板,可輕松訪問所有操作模式和參數。Prober還包括幾種圖形用戶界面（GUI）工具,使用戶能夠快速創建和修改測試模式、應用偏差設置以及自動執行測試操作。此外,高速通信界面使用戶能夠輕松地將處理器與外部計算機和控制系統集成在一起。400 prober包括一個機械臂，用於晶片和基板的精確和可重復對準，用於測試。其主軸驅動系統專為高精度應用而設計，每軸峰值精度為25 µm，可重復性為9 µm。該探測器還具有高度靈敏的電容傳感技術，能夠進行精確、可重復的測量和廣泛的測試電流。這樣就得到了非常精確的結果,具有最小的樣品操作、最小的探針力和最大的速度。該程序還包括各種用於手動和自動測試的軟件工具。它提供了一組應用程序編程接口（API），允許用戶開發用於測試的自定義腳本和軟件。它還提供對第三方軟件和硬件工具的訪問，以進一步提高測試效率，包括廣泛的測試頭、激光、顯微鏡、粒子計數器和其他設備。此外，它先進的計量工具使它能夠進行精確的測量，如薄片阻力、厚度和汙染。總之，PROBING SOLUTIONS 400 prober是一種先進的測試解決方案，適用於要求最苛刻的微電子和半導體測試應用。其精密的機械臂、電容感應技術和軟件工具為各種晶圓和基板提供了超精確和可重復的測試。其多種測試模式、靈活的接口和強大的軟件使其成為自動電路和組件測試的理想選擇。