二手 QMC DPS 600 #9379306 待售
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QMC DPS 600（Dynamic Publications Semiconductor）是一種用於半導體器件制造的prober。它旨在提供集成電路（IC）上組件的精確和可重復的計量讀數。DPS 600使用四尖端掃描頭和線性檢測系統來測量諸如蝕刻圖案、氧化物厚度和電阻等特征。它還能夠測量晶片上電路特性如Vt、漏源電阻、柵極、晶體管、二極管和電容器。Prober利用高速運動系統在測試點之間快速移動並進行測量而不影響精度。它由高分辨率CCD相機提供動力，該相機甚至可以檢測晶圓內最小的特征。該工具還配備了高度精確的手動晶片對齊器，允許操作員在被探測之前手動定位晶片。這種對齊特性具有± 3微米的重復性。Prober具有獨特的特性，如多深度探測，允許它在多層上同時進行測量，並支持高溫探測，這在探測晶體管和其他溫度敏感設備時很有用。該工具還附帶了一個觸摸屏用戶界面，簡化了prober的操作。QMC DPS 600允許對各種測試點進行編程,以最大限度地提高其準確性和可重復性。它支持單面和雙面探針，能夠處理直徑達200毫米的晶片。該工具還具有各種連接選項,如IEEE 1394、USB和RS 232,以允許數據傳輸到第三方系統。DPS 600是一款先進的道具,提供卓越的準確性和可重復性。它的特點使得它成為需要精確和可重復計量讀數的半導體器件制造商的理想解決方案。該工具還具有用戶友好的設計，簡化了操作，使操作員更容易使用。
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