二手 RUCKER & KOLLS / R&K 300 #131387 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
RUCKER&KOLLS/R&K 300是一種專為探測半導體晶片和基板而設計的專業、頂級的prober。它利用先進的微電機械系統(MEMS)和超精密電磁伺服驅動器的獨特組合,以堅固靈活的封裝提供世界級的準確性和可重復性。R&K 300具有獨特和創新的設計,最大限度地減少晶片在探頭上的失真和變形,並得到探測過程中獲得的極其準確的數據。最小的超載機構降低了晶片表面的應力,進而延長了晶片的壽命,提高了器件的屈服率。此外,先進的MEMS掃描技術可實現卓越的位置精度,可重復性高達0.2微米,最小/最大測量分辨率為1微米。RUCKER&KOLLS 300具有一系列功能,旨在確保探測晶片時盡可能精確和可重復性。其先進的遠程光學幹涉儀(ROI)提供了自動的高精度調平。Prober的探針帶有各種尖端尺寸和形狀,以確保每個過程都使用精確的尖端尺寸和形狀。這有助於保持準確性並減少測試中使用的時間。Prober的觸摸功能使用專有操作軟件和機器人技術,使儀器在測試時能夠精確對準晶片。300還有一個光束剖面儀,用於識別關鍵產品邊界和監測探針尖端運動。Prober晶圓處理系統由其內置軟件控制,該軟件允許操作員選擇測試參數並創建自定義的測試程序。該系統提供了一個預設測試配置列表,使其更易於設置,並且還能夠保存和存儲探測器配置。用戶界面是一個直觀、人性化的觸摸屏,帶有一些高級編程功能。總體而言,RUCKER&KOLLS/R&K 300是一款令人印象深刻的產品,具有令人印象深刻的準確性和可重復性、功能以及定制選項。其創新的設計和先進的功能確保它能夠提供可靠、可重復和準確的探測結果。最好的部分是它可以很容易地設置和用作獨立的工具或集成到任何自動化系統中,以快速產生高價值的結果。
還沒有評論