二手 SEMICS OPUS 2 #9209248 待售

SEMICS OPUS 2
製造商
SEMICS
模型
OPUS 2
ID: 9209248
Wafer prober.
SEMICS OPUS 2是在電路板或電子組件上測試各種電子元件的載體。它設計用於在工業環境中運行,適用於測試半導體器件,如晶體管、二極管、CCD、FET、SCR和集成電路。也可用於普通電阻器、電容器、電感等元件。SEMICS OPUS2 prober是為能夠快速檢測IC封裝電氣缺陷的高可靠性多探控設備而構建的。它配備了先進的光學檢測系統,能夠精確和無損地測量測試元件的電性能,並且能夠快速識別設備級故障。利用多通道同步技術,Prober能夠同時控制多達五個探針,提供行業標準的測試解決方案來驗證各種設備的性能。Prober配備了一個高性能的視覺單元,可以快速映射所有測試的組件。視覺機還捕獲有缺陷的測試點的圖像,可以快速識別和解決。Prober支援各類測試設備,如晶片束縛測試儀、模具束縛器、平板顯示測試儀等等。可以通過連接到本地計算機或Web應用程序的集成服務器遠程訪問測試結果。OPUS 2 prober具有自動校準工具,可監控資產性能並補償環境和過程條件等各種外部因素。Prober的狀態監視功能確保始終在最佳參數內運行,並且自動生成報告可確保操作員能夠輕松準確地跟蹤測試結果。總之,OPUS2 prober是測試各類電子元件的可靠有力的工具。其先進的光學檢測模型、多通道同步技術、視覺設備等功能使其能夠為廣泛的電子設備提供高精度測試和自動報告生成。
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