二手 SEMICS Opus II #293586055 待售

SEMICS Opus II是一款測試和測量半導體芯片電氣特性的prober。它旨在以盡可能高的精度和精確度對半導體芯片進行可靠的電氣測試和測量。它能夠對放置在單個膠帶或膠片和/或多層基板上的各種類型的單個模具提供準確的測試。Opus II利用各種技術，包括RF非接觸式、UHV、XPS和WDX來測試非接觸式探針以及一組配有圖樣和窗口解決方案的晶片。該設備的設計目的是在小面積和大面積上提供高度精確的測量。使用非接觸式探測能夠對芯片進行非接觸式測試，降低半導體芯片表面或機械損壞的風險。它還通過最大限度地減少接觸區域和潛在的電弧，幫助減少錯位和表面汙染的風險。SEMICS Opus II由SINGLS （Single and Large Surface, Surface and Large Surface） Probing系統提供動力，該系統使用非接觸式和基於接觸式技術的組合來測試探針。該單元允許對多個樣品層和晶片進行並行探測，從而實現更準確、更高效的測試。此外，機器有一個自動晶片處理工具，允許自動采樣和加載晶片。資產還使用校正後的框架來測試多達三種不同尺寸的曲面,從而實現更準確、更快速的測試。Opus II有一個集成分析套件，提供分析和評估半導體芯片電氣特性的綜合工具。該套件包括光譜、光譜成像、測量分析工具等功能，均可用於確定半導體芯片的電氣特性。此外,該模型還提供了跟蹤查看功能,使用戶能夠快速分析其測量結果並分析結果。SEMICS Opus II是用於測試和測量半導體芯片電氣特性的多功能、功能強大的Prober。它旨在為半導體芯片提供可靠的測試和測量，具有很高的精度和準確性。該設備還具有自動化裝載和測試能力，以及用於數據分析和評估的綜合分析套件。該系統適用於復雜的測試應用，是高級測試要求的理想選擇。