二手 SEMICS Opus II #293592875 待售

SEMICS Opus II是一款專為廣泛的半導體制造工藝提供晶圓測試和探針卡測試的prober。它是一種全自動設備，能夠測試大型晶片並對小型模具幾何形狀進行精確操作。它使用了環保、高精度的力調節器，以及一個伺服驅動的級，用於精確和速度控制的運動。該系統具有先進的探測能力和安全特性,非常適合高性能產品生產和工藝優化。Opus II具有先進的接觸單元，旨在對晶片精確施加壓力，同時避免任何標記或損壞。它能夠同時提供多站點探測和掃描，以及高精度的S/N和電氣測試分析。機器使用分辨率高達0.2-1 um的精細間距模式,以確保高保真數據。它還與一系列常規探針和探針卡兼容，包括多達64個站點的可編程探針。SEMICS Opus II有一個可靠的空氣軸承驅動級，在X-Y和Z兩個軸中移動。這使得工具在測試過程中能夠快速準確地將晶片定位在螺旋槳上。資產的集成變高視覺模型進一步提高了晶圓定位操作的精度。它還具有用於探測的高速粘合器、用於對準的激光視覺以及用於精確封裝測量的多模具溫度管理設備。Opus II能夠測試多種材料的性能，包括金屬、陶瓷和SOI電路。它還能夠提供電力MOSFET、線性形式和集成電路的電氣測試。該系統的機器人臂允許快速、精確地將模具放置在螺桿上，其集成的過程控制確保探針卡的性能一致。最後,SEMICS Opus II的設計考慮了較高的安全標準。它具有防靜電外殼和防止觸電的電氣安全機構。其電機速度控制和自動停止裝置進一步保證了晶片和生產線內工作人員的安全。該單元還易於安裝和使用，使其成為各類半導體和電子制造工藝的理想解決方案。