二手 SEMICS Opus II #293644080 待售

SEMICS Opus II是專門針對高級晶圓檢驗的苛刻要求而設計的prober。Prober集成了高精度運動和流體控制、高級成像和自動化功能。它能夠處理範圍廣泛的晶圓尺寸，從直徑小至1mm到大至12英寸。它還具有一個集成視覺系統，可以檢測到高達0.05微米的缺陷，使其成為檢查最復雜納米結構的可靠和準確的工具。Prober使用自給自足的操作系統和用戶友好的圖形界面進行操作,從而便於進行高效的晶圓檢查。它配備了一個可調的級，允許樣品移位和定位，使得可靠的晶圓對準和定位為精確檢查。它還配備了專用的對準和轉向系統，為每個樣品的測量位置提供快速準確的導航。Prober具有強大的成像系統,利用異常清晰的分辨率以及一系列對比和敏感性,能夠準確驗證微米級特性。它的全光譜照明和先進的光學器件提供了被檢查晶片的三維圖像，提供無與倫比的洞察晶片缺陷。Prober還具有集成的FOUP（前開口統一窗格）,允許安全可靠的樣品處理。它還配備了CCD攝像頭、液晶觸摸屏和集成熱控制器，提供可靠的數據采集和可重現的結果。Prober還包括幾個軟件程序來管理和自動化示例處理和分析。這些程序包括易於使用的程序編輯器,它允許快速創建自定義數據收集協議以及自動統計數據分析。Opus II是精密晶片檢測的完美工具，為先進的納米技術提供了最可靠、最精確的晶片檢測能力。它為可靠的晶圓檢測提供了全自動、高通量的解決方案,非常適合晶圓驗證、缺陷分析、過程評估和產品開發。