二手 SEMICS Opus II #293714774 待售

SEMICS Opus II是下一代prober，設計用於在自動化晶圓測試應用中測試高級設備。它提供了滿足下一代晶圓測試應用的挑戰性要求的能力。與半導體測試中使用的現有平臺相比，Opus II改進並擴展了功能。SEMICS Opus II是提供高吞吐量、高靈活性的高級Prober。設計中包含的機制可確保準確的設備一致性特性。Opus II采用VXI控制器和用於測量設備電氣和光學參數的高級測試測量儀器。設備以統計置信度準確測量裝置特性。SEMICS Opus II prober配備了先進的電氣測試系統，利用最新技術和儀器對設備參數進行精確測量。電氣測試單元集成了定制探針、定制打孔卡以及廣泛的應用特定測試儀器。自定義探測器提供與設備接觸板的直接接觸,而自定義打孔卡減少了執行測試所需的周期數。該機器還配備了光學測試儀器，如照相機和激光器，以進一步分析半導體器件。光學測試可以對器件進行進一步的表征，如模具和晶片圖，並以高精度進行全晶片測試。此外，該裝置還配備了溫濕室，用於測量環境條件對裝置性能的影響。Prober的集成軟件套件為測試結果的綜合分析提供了高級功能。軟件套件包括幾個模塊,如prober控制、測試測量、分析和數據存儲。軟件可以配置為滿足應用程序的要求，還包括使用prober的教材。Opus II prober是測試下一代先進半導體器件的有效工具。設計具有先進的特點，能夠準確測量設備特性，確保對測試結果進行精確分析。集成軟件套件提供了一系列功能,包括prober控制、測試測量、分析和數據存儲。該軟件還易於配置以滿足應用程序要求。Prober適用於多種晶圓測試應用，包括高級設備。