二手 SEMICS Opus II #293732452 待售
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SEMICS Opus II是一款用於在檢查各種半導體器件時提供無與倫比的精確度和靈敏度的產品。它采用U形探針框架，能夠同時探測四個器件，是大容量晶圓探針操作的理想選擇。它完全配備了各種用於晶圓處理、彈射和對準的自動化系統，以及用於快速、精確測量的車載自動歸零。此外，這種技術的進步還可以歸功於其強大的專利，這些專利尚未得到SEMICS的綜合軟件包。微光學技術允許在每個探頭上方和下方投射光圖樣，照亮使用中的探頭。這樣可以確保每次接觸和測量時都采用平穩和統一的方法。Opus II被設計為可與多種探針配合使用，例如空氣葉片、激光探針、硬凝膠和彈簧葉片探針。它的自動補償系統有助於減輕非理想的接觸條件,從而能夠準確可靠地測量高精度的測量結果。SEMICS Opus II具有各種測量類型，包括宏觀探測、零度探測和多測量探測。它還具有統計質量控制、S參數分析、線性響應分析、頻率響應、功率限制分析和噪聲圖形分析等多種數據分析工具。除了高效、準確的操作外,Opus II還得益於其直觀的用戶界面,該界面具有響應靈敏的彩色觸摸屏、圖形強調選項和一系列易於訪問且可自由配置的按鈕。Prober還支持多種內存選項,分別為32、64和128 GB。所有這些特性結合在一起，使SEMICS Opus II成為任何大容量晶圓探測操作的理想選擇。
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