二手 SEMICS Opus II #9119446 待售

SEMICS Opus II是一種先進的技術prober，用於接觸、非接觸、IC元件和半導體晶圓缺陷分析。Opus II專為高精度和可重復性而設計,可準確快速地檢測和辨別晶圓表面以及電線和接觸墊上的微小缺陷。SEMICS Opus II在溫度控制的環境中運行，具有先進的光學和源對齊功能以及獲得專利的晶圓定向系統。Prober的光學系統包括可變對焦變焦鏡頭和壓電XYZ級，允許技術人員手動調整變焦鏡頭和晶圓上的探頭位置。除了其高分辨率光學外，Opus II還配備了先進的接觸式和非接觸式傳感器，能夠以極高的速度檢測結構中看不見的缺陷。傳感器能夠拾取甚至很小的結構缺陷，例如電路密度的變化。Prober還結合了高分辨率CCD相機和高靈敏度紅外相機。CCD照相機可以捕捉到高達800萬像素大小的圖像,而紅外照相機可以拾取輕微缺陷區域發出的微小溫度變化。對於故障排除和調試,SEMICS Opus II包括一個非常寶貴的測試套件,可提供有價值的統計分析、故障檢測和計算機模擬故障分析。Prober的最新數據采集和分析功能可提供實時更新。Opus II旨在快速識別與產品相關的缺陷,幫助降低產品成本、減少生產停機時間和提高產品質量。