二手 SEMICS Opus II #9184457 待售

SEMICS Opus II是用於探測先進半導體電路的最先進的prober。它能夠進行廣泛的探測和測試操作，最大分辨率為25納米。該設備配備了125 um Omnimatrix TM探針卡,具有機載視覺和映像功能。它具有具有專有光子束的精密采樣級和先進的自動化特性。有了24 「x 24」的工作區域，Optus II可以探測大型設備，如片上系統（SoC）設計，先進的光學器件在模具兩側提供高分辨率探測能力。Optus II能夠探測各種類型的設備,包括高引腳數IC、堆疊模具配置、MEMS設備、TSV軟件包和Cu/Si/G/ckt軟件包。它的自動校準減少了手動對準時間，並導致探針損傷最小化。探頭使用雙鏡頭光學系統進行自動光束聚焦和對準。它還支持自動探針校準和坐標對準，用於精確的信號采集和可靠的測試結果。Optus II能夠為半導體器件提供準確、可重復的測試,而操作員的參與程度最低。它的自動化測試和探測功能可以節省寶貴的時間並減少人為錯誤。該單元還支持高級自動化功能，如可編程探針和自動停止。這減少了對手動探測操作的需求,並實現了對半導體器件的快速、自動化和精確探測。Optus II的自動光學掃描功能允許卓越的分辨率和縮小探測服務範圍。這意味著提高了結果的靈敏度和準確性。它還具有低噪聲、高精度的探測和測試能力，從而產生可靠的測試結果。該單元能夠以單模或多模模式運行，為大批量生產運行提供靈活性。Opus II是一款功能強大的prober，非常適合進行高級探測和測試操作。它具有125 um Omnimatrix TM探針卡,可提供卓越的分辨率、低噪聲、可重復測試和高級自動化功能。Optus II擁有24 「x 24」的工作區域，可以探測大型設備，如片上系統（SoC）設計，自動光學掃描功能允許更精細的探測服務和更準確的結果。Optus II非常適合探測高引腳計數IC、堆疊模具配置、MEMS設備、TSV封裝和Cu/Si/G/ckt封裝,而操作員的參與卻很少。