二手 SEMICS Opus II #9236854 待售

SEMICS Opus II，來自SEMICS International，是一個用於半導體器件探測和測試的自動化探測器。該工具旨在優化和簡化當今高速半導體器件所需的嚴格測試和驗證過程。Opus II將許多經過驗證的先進技術結合到一個模塊化平臺中。Prober的基本單元提供了高效的樣本處理和運輸設備,使用戶可以快速探測在任何測試配置中設置的設備。戰略性地放置真空卡盤和靜電卡盤,可在頂部和底部測試裝置上提供安全零件固定的快速工具訪問,同時確保每次都有可靠的電氣接觸。該系統還具有大型空白磁帶倒帶功能,允許同時使用多個測試方案。探測單元包括四個不同的探頭,每個探頭針對特定的探測應用進行了優化。「觸地得分」頭是一種高速接觸模式的主力,可確保與高密度、小信號的可靠接觸,而「CAE」頭則針對多達1000個觸點的無接觸探測進行了優化。「噩夢」頭非常適合在路由復雜的設備上進行深度接觸模式探測。最後，「開拓者」頭被設計為以其高功率開關技術測試高速外部信號和高密度互連設備。此外，SEMICS Opus II的優化控制機保證了快速測試速度和高吞吐量。通過幾個自動化的程序，工具載體可以被精確地移動到測量位置，或者在探測過程中實時監控。該工具隨附的軟件包包括一個完整的測試音序器，因此用戶可以快速創建自動化的測試序列，可以控制在特色運營商上的生產測試。最後,Opus II的開放式體系結構允許集成到自動化生產線或測試系統中。Prober的接口選項包括各種通信協議,如GPIB、RS-232、USB、以太網等。工具的其他有用的提高生產力功能包括數據庫同步、OCR識別、標簽打印以及PC控制的溫度室、熱卡盤和低溫卡盤溫度控制等獨特功能。總體而言,SEMICS Opus II是一種功能強大且高度先進的prober資產,它將設備探測和測試提升到一個全新的水平。它將先進的探測技術與靈活、開放的體系結構和高效的測試控制相結合,以確保在廣泛的應用中獲得最高的測試準確性和效率。