二手 SEMICS Opus II #9280522 待售

SEMICS Opus II是由SEMICS, Inc.它是一種智能的自動晶片檢測和探測設備，旨在簡化質量保證測試的過程。它能夠以較高的準確率和速度檢測樣品中的輕微缺陷和汙染。該系統還配備了多通道prober，可以測量接觸電阻、電流、電壓、開關時間、接觸力、通道分離和接觸角等多個參數。Opus II非常適合各種應用,包括晶圓映射、設備表征、故障分析和質量保證測試。利用二維標記感應算法檢測晶圓表面是否存在金屬或有機汙染。該單元在驗證矽晶片的清潔度時可提供準確的結果，也可用於測試集成電路元件。它還能夠測量全晶片上的接觸電阻。SEMICS Opus II配備了先進的安全功能。將探測器編程為在超過力閾值時停止測試,並將其設計為防止發生電過壓（EOS）情況。它還能夠檢測電幹擾。該機設計小巧輕巧，便於從一個位置移動到另一個位置。其直觀的用戶界面允許快速、輕松的操作。它的自動化功能減少了操作員完成測試任務所需的時間。Opus II非常可靠和一致。它具有良好的性能、可重復性和較長的校準時間範圍,是開發和生產晶片測試的絕佳選擇。總體而言,SEMICS Opus II是一個非凡的工具。它極其準確可靠，價格極具價值。對於生產和研究實驗室來說，這是一個不錯的選擇，因為它可以提供精確和可重復的測試結果。其簡單的用戶界面、先進的安全特性和卓越的性能使其成為滿足許多晶圓測試需求的理想解決方案。