二手 SEMICS Opus II #9284013 待售

SEMICS Opus II是為晶圓級設備的高性能測試和調試而設計的高端prober設備。它的設計考慮到了可擴展性、自動化和高精度。Prober系統由高度精確的全自動探測級組成，旨在測量精度高達0.1微米的小特征。Prober單元配備了大量用於收集溫度、電壓、光信號等數據的先進傳感器。Prober machine also features a various of precision measurement meturation methods, as electrical, optical, and thermal probection as a whole array of endited equipment for automated micro-etching, laser etching, and CMP.所有這些特性在晶圓級IC測試中非常有益，有助於準確揭示微妙的設計誤差和設備微觀結構。Prober工具還能夠進行自我校準和遠程診斷。在這種模式下，它可以監視和糾正任何自發錯誤，確保其所有結果保持高度準確和可重復。Prober資產的自動化方面還允許對多個晶片進行並行快速評估，大大減少了測試每個晶片所需的時間。此外，多種DUT類型的支持使得Opus II非常適合廣泛的應用。SEMICS Opus II也有幾項先進的能力，例如能夠與其他系統整合，例如自動化設備，讓它在多個行業部門工作。它還有一個集成的數據分析套件，它對設備測試結果提供極其詳細和通用的分析。這允許從設計過程開始就完全識別任何設計缺陷或故障。Opus II是一種高度先進的prober模型，適用於廣泛的應用。該設備的功能使其成為尋求最大限度地提高晶圓級調試過程速度和精度的IC工程公司的絕佳選擇。