二手 SEMICS Opus II #9284014 待售

SEMICS Opus II是一種高端、靈活、高度精確的計量工具。它是為半導體工業中先進的探測和測量操作而設計的。該工具包括兩個主要組成部分：一個全自動、多傳感器的實際掃描儀和一個用戶友好的軟件設備。軟件模塊是一個嵌入式、基於Windows的平臺，與實際掃描儀相連，執行實時數據捕獲和控制支持。應用套件配備了多種配置選項，如多車道運行的實時設備重新定位，延遲探測，以及邏輯驗證。它的用戶友好界面允許快速、輕松的設置和高效的數據管理。實際的掃描儀是以3軸定位平臺與5軸驅動單元構建的半自動、半活動系統。平臺允許自動掃描預定義的曲面,同時還允許手動調整和校準正在測試的對象上的特定部件或位置。高分辨率CCD相機和X射線源成像有助於導航和分析從每個位置獲取的任何數據集。該機器不僅可以測量半導體晶片表面的大小和平坦度，還可以從每一個不同層捕獲計量和叠加值。Opus II提供的各種測量功能由幾種不同的高端指標和工具支持,例如：自動車道測量、噪聲分析器、部分叠加監測和基於探針的缺陷測量。所有這些計量工具都能幫助工具準確準確地測量和分析其結果。SEMICS Opus II是半導體行業中最先進、用途最廣泛、最精確的計量系統之一。它是用於測試和開發下一代半導體產品以及創建安全集成電路設計的關鍵工具。憑借其高端技術和全面的計量功能，Opus II使得大幅降低制造成本和提高生產速度成為可能。