二手 SEMICS Opus II #9300096 待售

SEMICS Opus II是一種掃描電子顯微鏡（SEM）prober設備，設計用於測試和探測高頻模擬電路。它能夠在包括矽、砷、玻璃在內的基板上測試直流和多MHz射頻電路。該系統包括一個精密表面傾斜平臺，一個高精度XYZ采樣級，一個以4 rpm速度旋轉的索引工具卡盤，以及一個包括信號源、探頭、多功能開關、定向耦合器和集成RF放大器在內的全RF單元。Opus II具有用於測試高頻元件的高能電子束，並顯示出使用高分辨率光編碼器實現納秒域脈沖寬度的高度穩定和精確的對準能力。它還能夠測試高達1.5 GHz的設備，為各種材料如氮化鋁（AlN）、氧化鋁（AlOx）、聚酰亞胺（PI）提供出色的表面質量。此外,機器可以使用可選的自動掃描速度控制從1.5 μ m/sec到333 μ m/sec生成多個掃描速率。該工具配有加熱的樣品級和真空接口單元，用戶可以進入高真空條件，還包括設備處理和接近傳感器的操縱器。該資產采用緊湊的設計,易於設置和安裝,並且包含的軟件使操作員能夠輕松控制和監控模型操作。憑借其自動化功能，SEMICS Opus II可以以高達0.040%的信號準確率運行。總體而言，Opus II是一種高端掃描電子顯微鏡設備，為高頻設備和基板上的電路提供準確和可重復的測試。其緊湊的設計使其易於安裝，其堅固的功能允許用戶在幾分鐘內進行高精度探測。利用其自動化功能,用戶可以快速輕松地監控操作。