二手 SEMICS Opus II #9302521 待售

SEMICS Opus II是由SEMICS AT Ltd.開發的高性能prober，允許對電子元件的特性和物理特性進行高級測試。它能夠快速探測和測量各種半導體和MEMS應用中使用的材料和組件。Prober是由多個元素組成的模塊化系統，包括樣本表、數據采集系統、軟件和可選的機械臂。它可以同時測量多達20個不同的電氣和機械連接,使用快速的切換速度和一次測量多個連接的能力。此外,Opus II的精確運動控制算法使其能夠對具有多種材料、形狀、大小和布置的樣品進行幹凈、準確的探測和分析。SEMICS Opus II采用模塊化結構設計,由通過電纜和適配器卡連接的多個部分組成。此模塊化結構允許靈活性和可擴展性,允許用戶根據需要添加其他組件和功能,並根據需要切換出現有部件。此外，它的剛性工業級框架和螺母和墊圈的設計使得一個可靠的機器具有長期的穩定性。直觀的圖形用戶界面便於操作,並允許自定義測試序列,而其自動自校準系統可確保準確性和一致性。為了補充其眾多功能,Opus II還提供了多種高級測試選項。它能夠執行一系列機械測試,如球剪切應力、拉力測試、扭轉扭矩和拉力/壓縮力。此外,還可以進行高級熱測試,包括加熱/冷卻熱沖擊、浸泡後、熱坡道和數字熱成像。其先進的電氣測試包括歐姆接觸電阻、泄漏和多頻阻抗分析。SEMICS Opus II是用於各種用途的理想工具,它是用於高級機械和電氣電子元件測試的高性能處理器。Opus II具有模塊化結構、可定制性和高級測試功能,是一種適用於復雜且要求苛刻的應用程序的多合一解決方案。